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晶振測試系統(tǒng)由PO7E頻標(biāo)比對(duì)器,SF1130/1131 GPS/北斗馴服晶振(外置天線),SS2901E射頻開關(guān),計(jì)算機(jī)等組成。 PO7E頻標(biāo)比對(duì)器,SF1130/1131 GPS/北斗馴服晶振,搭配計(jì)算機(jī)可以組成自動(dòng)測試系統(tǒng),配用SS2901E射頻開關(guān)最多可以測量1-16路被測晶振信號(hào)。該自動(dòng)測試系統(tǒng)依據(jù)《W1681JJG 180-2002 電子測量儀器內(nèi)石英晶體振蕩器檢定規(guī)程》可實(shí)現(xiàn):穩(wěn)定度測量、準(zhǔn)確度測量、老化率測量、開機(jī)特性測量、日波動(dòng)測量、復(fù)現(xiàn)性測量。測量過程可以交替采樣,無間隙,多任務(wù)交叉工作,掉電數(shù)據(jù)保存,并可使用USB接口、GPIB接口(選配)連接計(jì)算機(jī)自動(dòng)打印檢定證書。
頻率計(jì)測試系統(tǒng)由SS7402頻率計(jì)數(shù)器,TFG5020T時(shí)間合成器,合成信號(hào)發(fā)生器,PO7E頻標(biāo)比對(duì)器,TR3113銣原子頻率標(biāo)準(zhǔn)等組成。 依據(jù)《JJG 349-2014 通用計(jì)數(shù)器檢定規(guī)程》搭配不同組合可以實(shí)現(xiàn)如下功能測量: 配合PO7E頻標(biāo)比對(duì)器、TR3113銣原子頻率標(biāo)準(zhǔn)可以組成頻標(biāo)比對(duì)測試系統(tǒng),可以測量計(jì)數(shù)器內(nèi)部晶振的穩(wěn)定度、準(zhǔn)確度、日波動(dòng)、老化率、復(fù)現(xiàn)性、開機(jī)特性。配合TFG5020T時(shí)間合成器和合成信號(hào)發(fā)生器可以測量計(jì)數(shù)器的頻率測量及測量誤差、周期測量及測量誤差、時(shí)間間隔測量及測量誤差。 晶振測量過程可以交替采樣,無間隙,多任務(wù)交叉工作,掉電數(shù)據(jù)保存,頻率測量、測量誤差、周期、時(shí)間間隔可實(shí)現(xiàn)頻率、閘門、周期等參數(shù)自動(dòng)設(shè)置/切換。并可使用設(shè)備自帶程控接口連接計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)無人值守的自動(dòng)測量和打印檢定證書。
本測量系統(tǒng)適用于電子測量儀器內(nèi)石英晶體振蕩器和時(shí)間間隔測量范圍為1ns~10000s的時(shí)間間隔測量儀的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢查。 依據(jù)《JJG 238-2018時(shí)間間隔測量儀檢定規(guī)程》,PO7E頻標(biāo)比對(duì)器、SS2901E射頻開關(guān)、TR3111銣原子頻率標(biāo)準(zhǔn)可組成頻標(biāo)比對(duì)測試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)檢定規(guī)程中的穩(wěn)定度、準(zhǔn)確度、日波動(dòng)、老化率、復(fù)現(xiàn)性、開機(jī)特性項(xiàng)目的檢定。銣原子頻率標(biāo)準(zhǔn)、TFG5020T時(shí)間合成器、計(jì)數(shù)器以及延遲線組成時(shí)間間隔測量系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)1ns~10000s的時(shí)間間隔測量。
時(shí)鐘測試儀實(shí)時(shí)自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)是依據(jù)時(shí)鐘測試儀校準(zhǔn)規(guī)范JJF1662 - -201 7研發(fā)的專用于計(jì)量、校準(zhǔn)時(shí)鐘測試儀的日計(jì)時(shí)誤差、頻率測量、頻率輸出信號(hào)、時(shí)鐘時(shí)刻誤差等功能的標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng),通過通訊接口發(fā)送指令接收相應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)測量校準(zhǔn),并組成和打印證書。廠泛應(yīng)用于電力系統(tǒng)、計(jì)量校準(zhǔn)部門、科研院所及電能表生產(chǎn)企業(yè)。